Electron states of mono- and bilayer graphene on SiC probed by STM
ORAL
Abstract
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Authors
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Fran\c{c}ois Varchon
Institut Neel CNRS/UJF, Institut N\'eel/ CNRS-UJF Grenoble France, Institut NEEL CNRS/UJF, 25 rue des Martyrs BP166, 38042 Grenoble
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Pierre Mallet
Institut Neel CNRS/UJF, Institut N\'eel/ CNRS-UJF Grenoble France, Institut NEEL CNRS/UJF, 25 rue des Martyrs BP166, 38042 Grenoble
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C\'ecile Naud
Institut N\'eel/ CNRS-UJF Grenoble France, Institut NEEL CNRS/UJF, 25 rue des Martyrs BP166, 38042 Grenoble
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Claire Berger
The Georgia Institute of Technology, Atlanta, Georgia 30332-0430; Institut NEEL CNRS/UJF, 25 rue des Martyrs BP166, 38042 Grenoble
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Laurence Magaud
Institut Neel CNRS/UJF, Institut N\'eel/ CNRS-UJF Grenoble France, Institut NEEL CNRS/UJF, 25 rue des Martyrs BP166, 38042 Grenoble
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Jean-Yves Veuillen
Institut Neel CNRS/UJF, Institut N\'eel/ CNRS-UJF Grenoble France, Institut NEEL CNRS/UJF, 25 rue des Martyrs BP166, 38042 Grenoble